製造商產品編號:
SN74BCT8373ANT
Product Overview
製造商:
Texas Instruments
零件編號:
SN74BCT8373ANT-DG
描述:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
详细描述:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-PDIP
庫存:
1683754
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SN74BCT8373ANT 技術規格
類別
邏輯, 特殊邏輯
製造商
Texas Instruments
包裝
-
系列
74BCT
產品狀態
Obsolete
邏輯類型
Scan Test Device with D-Type Latches
電源電壓
4.5V ~ 5.5V
位數
8
工作溫度
0°C ~ 70°C
安裝類型
Through Hole
包裝 / 外殼
24-DIP (0.300", 7.62mm)
供應商設備包
24-PDIP
基本產品編號
74BCT8373
資料表及文件
數據表
額外資訊
標準套餐
15
其他名稱
2156-SN74BCT8373ANT-TI
SN74BCT8373ANTE4
SN74BCT8373ANTE4-DG
TEXTISSN74BCT8373ANT
SN74BCT8373ANT-DG
296-33848-5
環境及出口分類
RoHS 狀態
ROHS3 Compliant
濕氣敏感度等級 （MSL）
1 (Unlimited)
REACH 狀態
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
替代模型
部件編號
SN74BCT8373ADW
製造商
Texas Instruments
可用數量
0
部件號碼
SN74BCT8373ADW-DG
單位價格
9.11
替代類型
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DIGI 認證
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