製造商產品編號:
SN74BCT8373ADW
Product Overview
製造商:
Texas Instruments
零件編號:
SN74BCT8373ADW-DG
描述:
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
详细描述:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
庫存:
1649105
請求報價
數量
最低限1
最低限1
(*) 是必填的
我們會在24小時內回覆您
我們會在24小時內回覆您
提交
SN74BCT8373ADW 技術規格
類別
邏輯, 特殊邏輯
製造商
Texas Instruments
包裝
Tube
系列
74BCT
產品狀態
Active
邏輯類型
Scan Test Device with D-Type Latches
電源電壓
4.5V ~ 5.5V
位數
8
工作溫度
0°C ~ 70°C
安裝類型
Surface Mount
包裝 / 外殼
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供應商設備包
24-SOIC
基本產品編號
74BCT8373
資料表及文件
數據表
額外資訊
標準套餐
25
其他名稱
SN74BCT8373ADWG4
2156-SN74BCT8373ADW
-SN74BCT8373ADW-NDR
SN74BCT8373ADWE4-DG
SN74BCT8373ADWE4
TEXTISSN74BCT8373ADW
SN74BCT8373ADWG4-DG
環境及出口分類
RoHS 狀態
ROHS3 Compliant
濕氣敏感度等級 （MSL）
1 (Unlimited)
REACH 狀態
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI 認證
相關產品
SN74LS31N
IC HEX DELAY ELEMENT 16-DIP
SN74ABT18245ADLR
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP
SY100EL16VSZC
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
