製造商產品編號:
SN74BCT8373ADWRG4
Product Overview
製造商:
Texas Instruments
零件編號:
SN74BCT8373ADWRG4-DG
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
详细描述:
Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
庫存:
1653864
請求報價
數量
最低限1
最低限1
(*) 是必填的
我們會在24小時內回覆您
我們會在24小時內回覆您
提交
SN74BCT8373ADWRG4 技術規格
類別
邏輯, 特殊邏輯
製造商
Texas Instruments
包裝
-
系列
74BCT
產品狀態
Obsolete
邏輯類型
Scan Test Device with D-Type Latches
電源電壓
4.5V ~ 5.5V
位數
8
工作溫度
0°C ~ 70°C
安裝類型
Surface Mount
包裝 / 外殼
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供應商設備包
24-SOIC
基本產品編號
74BCT8373
資料表及文件
數據表
額外資訊
標準套餐
2,000
環境及出口分類
RoHS 狀態
ROHS3 Compliant
濕氣敏感度等級 （MSL）
1 (Unlimited)
REACH 狀態
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
替代模型
DIGI 認證
相關產品
SN74ABT18646PM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SY54016ARMG-TR
IC RCVR/LINE DVR CML LV 8-MLF
SN74FB2040RCG3
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
