SN74BCT8240ADWR
製造商產品編號:

SN74BCT8240ADWR

Product Overview

製造商:

Texas Instruments

零件編號:

SN74BCT8240ADWR-DG

描述:

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
详细描述:
Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC

庫存:

1562457
請求報價
數量
最低限1
num_del num_add
*
*
*
*
(*) 是必填的
我們會在24小時內回覆您
提交

SN74BCT8240ADWR 技術規格

類別
邏輯, 特殊邏輯
製造商
Texas Instruments
包裝
-
系列
74BCT
產品狀態
Obsolete
邏輯類型
Scan Test Device with Inverting Buffers
電源電壓
4.5V ~ 5.5V
位數
8
工作溫度
0°C ~ 70°C
安裝類型
Surface Mount
包裝 / 外殼
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供應商設備包
24-SOIC
基本產品編號
74BCT8240

資料表及文件

額外資訊

標準套餐
2,000
其他名稱
TEXTISSN74BCT8240ADWR
2156-SN74BCT8240ADWR
2156-SN74BCT8240ADWR-TITR-DG

環境及出口分類

RoHS 狀態
ROHS3 Compliant
濕氣敏感度等級 (MSL)
1 (Unlimited)
REACH 狀態
REACH Unaffected
ECCN
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI 認證
相關產品
microchip-technology

SY100EL16VCKC TR

IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-MSOP

microchip-technology

SY100S314FC

IC LINE RCVR QUINT DIFF 24CERPAK

microchip-technology

SY58621LMG

TXRX 3.2GBPS CML/LVPECL 24-MLF

microchip-technology

SY100EL17VZG-TR

IC RECEIVER QUAD DIFF 20SOIC